电机控制器硬件在环测试 MCU HIL
背景概述
为确保在产品功能开发的早期阶段可完成嵌入式测试到系统整合阶段时的测试，会在控制策略开发到测试的各个阶段引入硬件在环测试。电机控制器硬件在环测试(MCU HIL)通过模拟控制器在不同工作条件下的工作环境，实现控制算法验证和故障诊断测试。
挑战：
- [大功率]开发测试需要叠加大功率信号(高电压、大电流)
- [多工况]需要在各种不同工况甚至极端工况下测试
- [安全性]直接使用电机台架试验有较高的测试风险
- [时效性]对算法要求较高，增加测试难度和环路延时
测试方案
NI PXI实时系统
NI PXI系统提供了高性能的模块化仪器和丰富的I/0，这些I/0 具有专用的同步功能和主要的软件功能，适用于从设备检验到自动化生产测试等测试测量应用。
NI SLSC 故障注入
NI SLSC板卡模拟各类电气故障和电池故障，包括信号开路、对电源对地短路、针脚间短路等电气故障，以及过电流、过压、欠压、过温等电性能故障，用于测试ECU的故障检测和诊断功能。
LabVIEW
LabVIEW是专为测试、测量和控制应用而设计的图形化编程语言，内置数千个可用分析的函数，使用可配置的交互式显示元素以及提供自动化测试的数据采集设备和仪器的驱动程序，可与其他语言和行业标准协议实现连接，集成了快速搭建自动化测试系统所需的一切。
VeriStand
VeriStand是一款基于配置的专业实时测试与仿真软件，可无编程创建测试应用，快速将硬件I/O与多种环境下开发的仿真模型相集成，同时可以通过NI LabVIEW及其他软件添加自定义与其他自动化测试功能，在兼具灵活性与开放性的同时，降低系统开发难度，缩短开发时间。
方案优势
- 多通道高性能模拟：采用NI PXI系统进行多种信号高精度测试和射频信号模拟分析
- 简单易用：采用NI自动化测试管理软件，自定义用测试序列，调用任何编程语言编写的代码模块
- 可扩展：NI PXI系统和SLSC故障注入板卡模块化设计，可根据需求自定义扩展测试板卡的数量。
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