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SENTECH SPECTRARAY II 光谱椭偏仪软件 |
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最近更新日期：2007-04-27 |
| 厂商名称： |
SENTECH |
| 商品名称： |
光谱椭偏仪软件 |
| 商品型号： |
SPECTRARAY II |
| 简单信息： |
SENTECH强大的光谱椭偏仪分析软件，针对最尖端的椭偏仪测量、分析应用。 |
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SpectraRay – SENTECH强大的光谱椭偏仪软件，有出色的建模、仿真、拟合程序，使用户能够轻松完成各种复杂分析。
SpectraRay 支持多角度测量，并可结合多次测量数据和光度测量数据进行分析。软件包含广泛的材料数据库和多种材料模型，可描述任何材料的性质。
软件操作非常直观并简单易用，支持多用户操作。脚本功能使软件可适应各种特定应用，如自动连续测量, 或操控第三方硬件如传感器、加热器或低温保持器。
关键特征:
• 能够进行多角度测量，多次实验数据同时分析，并能够结合光度测量数据分析。
• 测量椭圆偏振光数据，反射光数据，透射光数据，去偏振效应，各向异性材料和Mueller矩阵数据。
• 多种材料弥散模型，可针对任何种类的材料应用。
• 广泛的并在持续升级到最新的材料数据库。
• 出色的仿真功能，对各种椭圆偏振光数据、反射或透射光数据、去偏振效应、各向异性材料、针对波长的色彩数据、能量、入射角度等参数均能够计算。
• 结果报告程序，能够将测量数据和测量光谱作为web页、ASCII文件、图象输出，并能够轻松转换到其他windows应用软件中。
SpectraRay软件被设计用来针对各种复杂材料的性质进行分析。这些复杂材料性质包括：
• 化合物或混合材料的组分构成
• 材料的光学参数的梯度，包括垂直薄膜表面和平行于薄膜表面。
• 薄膜表面粗糙层和两种材料中间界面层分析
• 非均匀性分析 (薄膜厚度，光学参数)
• 各向异性材料分析 (单轴晶体和双轴晶体)
• 载流子浓度和迁移率
• 周期性膜层和非周期多层膜，无膜层数限制 |
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