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SENTECH SpectraRay II - Anisotropy 光谱椭偏仪分析软件 |
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最近更新日期：2007-04-28 |
| 厂商名称： |
SENTECH |
| 商品名称： |
光谱椭偏仪分析软件 |
| 商品型号： |
SpectraRay II - Anisotropy |
| 简单信息： |
SENTECH光谱椭偏仪各向异性样品分析软件 |
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SpectraRay 光谱椭偏仪各向异性样品分析软件
• 先进的光学模型建模功能，针对各向异性薄膜
• 覆盖SENTECH椭偏仪产品全部光谱范围
• 单轴晶体和双轴晶体薄膜类型，最多可选择由三个方向描述的电介质函数 nx(λ), ny(λ), nz(λ) or εx, εy, εz
• 任意‘各向同性’ 材料弥散关系都可应用(包括oscillators, 等效中间值近似等)
• 可拟合3个 Euler角α, β, γ，用于描述晶体坐标系统。
• 能够分析各向同性和各向异性材料组成的多层膜系统
• 操作轻松，得宜于SENTECH功能强大的软件包SpectraRay II。
不同于各向同性材料，各向异性材料的光学参数取决于光线传播路径相对材料轴的方位。这说明，各向异性材料性质在指定波长需要多于一个的折射率数据描述。各向异性性质能够通过椭偏仪多入射角度测量或样品沿z轴旋转测量进行分析。
SpectraRay各向异性材料分析软件能够对任何入射角度、样品旋转位置和起偏器角度计算各向异性样品的性质。
SpectraRay 各向异性材料分析软件支持样品在任意方位下的椭偏数据分析（通常称为一般性椭偏分析）。
下列复杂弥散关系包含在SpectraRay II软件包中:
• 单州晶体材料类型 nxy, nz (εxy, εz)
• 双轴晶体材料类型 nx, ny, nz (εx, εy, εz) ，数据包含3个 Euler角α, β, γ
SpectraRay II对各向异性分析有着出色表现，以轻松的软件操作和建模为软件设计理念。 |
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