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Keithley 2600系列 数字源表 |
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最近更新日期：2007-04-17 |
| 厂商名称： |
Keithley(吉时利) |
| 商品名称： |
数字源表 |
| 商品型号： |
2600系列 |
| 简单信息： |
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主要特点及优点:
一个紧凑的单元中综合了如下功能：精密电压源、高精度电流源、数字多用表、任意波形发生器、电压或电流脉冲发生器、电子负载以及触发控制器
接触检测功能确保了高速及准确的测量
每秒10,000个读数和5,500个源-测量点记录到存储器，提供了更快速的测试
内置的测试脚本处理器(TSP™)提供非并行系统的自动化测试，将I-V测试的速度提高到同类产品的二到四倍
2600系列提供宽动态范围：1pA到10A，1μV到200V
TSP-Link™主/从控制架构将多台2600数字源表无缝地整合成一个系统，将其作为一台独立的仪器进行编程和控制
免费的测试脚本编辑软件--Test Script Builder，可以轻松地创建功能强大的测试脚本，实现用户特定的测试功能
免费的LabTracerTM2.0 软件，无需编程直接得到半导体I-V 特性曲线，易学易用
每个40W,3A的通道都是独立的，从而保证了高度的测量完整性和配置的灵活性
业界最高的SMU机架密度特别适合自动化测试的应用
2600系列数字源表系列给电子元器件和半导体制造商提供了一个灵活的、高效的、极具性价比的方案，适合于精确DC、脉冲和低频AC的源-测量测试。基于最初2400系列数字源表的紧凑集成源-测量技术，2600系列仪器在I-V测试应用中 能够提供相当于同类产品的二到四倍的测试速度。它们还具备更高的源测量通道密度并且比同类产品显著地降低了使用成本。专利的模数转换器在小于100μs的时间内 可同时提供I和V测量值 (10,000 读数/s)，源-测量扫描速度为200μs每点 (5,500 点/s)。这种高速的源-测量能力加上先进的自动化特性及软件工具使得2600系列数字源表系列成为广泛用于多种器件I-V测试的理想方案。
无需主机的灵活系统
2600系列结合了创新的技术从而可以经济的建立多通道I-V测试系统而无需牺牲产能。TSP-Link是高速的系统扩展连接，可让您以主/从配置连接多台2600系列仪器。
一旦连接配置完成，系统内所有的2600系列仪器都可以在主机的控制下进行编程和操作，而且不需要机架/主机，TSP-Link给您实质上的无限灵活，从而调节系统通道的数量来匹配变化的应用需求，同时确保无缝集成。
新性能增加测试速度并降低测试成本
测试脚本处理器(TSP)
测试脚本处理器(TSP)是2600具有的另一项新技术，任何基于2600系列的系统都可以在主单元的TSP上高速的运行嵌入式测试脚本。测试序列被嵌入仪器中的处理器上处理并执行，而不是由外部的PC控制，由此消除了GPIB传输导致的延迟。对同一台仪器，使用TSP测试脚本可以获得的吞吐量是使用PC程序通过GPIB接口时吞吐量的10倍。TSP测试脚本可以从前面板或通过系统的GPIB接口加载并运行。只需一个运行于主单元的TSP测试脚本，就可以控制系统中所有的源-测量通道，并可以从任何连接到TSP-Link的2600系列仪器中采集数据，最多可支持64台2600互联在一起。
TSP用于先进的自动化
一个基于2600系列的系统可以作为一个完整的自动化测量方案而独立工作，适用于半导体器件或元器件测试，由主控的2600单元来进行激励、测量、通过/失效判断、测试序列流程控制、分级筛选、元器件分选机或探针台控制。与已嵌入的测试程序装置相比，TSP测试脚本具有更好的编程灵活性，包括支持：
仪器命令队列
通用的模块化子程序
通过/失效和限制测试
灵活的分支和循环能力
灵活的外部触发
智能数字I/O读写能力
RS-232通讯
第三代SMU设计实现更快的测试速度 2600系列的新SMU设计大大提高了测试速度。例如，较早的设计使用了并联的电流量程布局，2600系列使用了建立更迅速的串联量程布局(专利申请中)，这提供了更快且更平滑的量程变换和输出。它也允许对电流输出限制的编程独立于电流量程，用于电容性负载的快速充电和实验台使用中更直觉的操作。
每个2600系列数字源表的通道都提供高度的灵活性、具有电压和电流表/限制器的四象限电源。每个通道都可被设置为一个：
精密电源 (高达200V和3ADC/10A脉冲输出，具有1pA读回分辨率)
精确电流源
数字多用表(直流电压、直流电流、电阻、电源，具有五位半分辨率)
电源V或I脉冲发生器(脉冲宽度：150μs或更长－仅源；250μs或更长－源和测量)
电源V或I波形发生器(20点正弦波在TSP测试脚本中可高达400Hz)
电子负载
具有同时源回读能力的高速高精度模数转换器
各款2600系列仪器都提供四象限操作并可被串联或并联来扩展动态范围。在一三象限，它们作为源，对负载输送功率。在二四象限，它们作为热沉，在内部耗散功率。它们以五位半的分辨率同时测量电压和电流，并显示电压、电流、电阻或功率读数。
每通道两个模数转换器(分别用于I和V)可同时工作，提供精确的源回读而不牺牲测试速度。这些模/数转换器提供可编程的集成比率，允许用户进行优化，以实现高速度(>10,000读数/秒,在 0.001NPLC设置时)或高分辨率(高达24位,在 0.001NPLC设置时)来进行高准确度的测量。
数字I/O接口
每个2600系列仪器的背面板端口都提供14位通用数字I/O，可将仪器连接到多种流行的机械手以实现测试后的分选和装箱。这些I/O线也兼容Keithley较早的Trigger Link仪器触发技术。这些线路可以容易的将2600系列仪器集成为一个使用外部仪器的系统，包括2400系列数字源表仪器、7000系列开关主机和2700系列数据采集/多用表集成系统。
内置接触检测功能
接触检测功能可以在自动测试序列开始前简单而迅速的检验连接是否良好。这消除了与接触疲劳、破损、污染、松弛或损坏的连接、继电器失效等有关的测量误差和产品失效误判。
图形化的仪器设置。LabTracer2.0支持多达八个2600或2400系列数字源表通道。2400和2410数字源表还支持电压扩展能力。LabTracer2.0的仪器设置窗口的下拉菜单中可以配置数字源表的任意通道，来进行定点或扫描操作。配置完成后，只需一次按键即可执行测试。
从研发到函数测试的I-V测试应用
2600系列数字源表为研发测试提供易于使用、功能强大的解决方案。同时满足批量产品测试所需的速度和可靠性。
功能强大且易于使用，适合研发应用
在研发和器件特性分析环境中，无论是用于交互式还是自动化测试，2600系列都具备高度的测试通用性。可免费下载的LabTracer2.0软件使用户能够迅速、方便的配置并控制多达八个2600或2400系列数字源表通道，可用于曲线追踪或器件特性分析。其简明的图形化用户界面可以从数字源表上方便的实现建立、控制、数据采集和DUT数据绘图。将LabTracer和数字源表配合使用，是特别适合实验室用户的功能强大、易用且经济的机架式方案。
测试完成后，数据显示在电子表格面板和图形面板中。可以通过对结果应用公式来对测量数据进行处理。对于更详细的分析，只需简单的剪切和粘贴，数据即可被导出到Microsoft® Excel中。
大幅提高产品测试产能
2600系列仪器帮助元器件制造商大幅度提高测试产能，同时提供能处理如今器件的测试方案。如今的器件通常比早期的器件有更高的管脚数和模拟电路。过去，制造商迫于缺乏为多通道源-测量应用而优化的测试方案，不得不在笨重、昂贵的基于主机的系统、由PC控制的缓慢的基于仪器的系统和需要复杂的开发才能实现的快速的基于仪器的系统之间做出选择。2600系列提供：
目前基于SMU系统中最高的密度，以应对不断增长的管脚数。
业界最快的吞吐速度，帮助减少测试成本。板上处理器的速度和TSP测试脚本再加上由TSP-Link总线提供的触发同步，使高速并行测试的应用成为现实。
更低的开销。通过消除对主机/机架的需求，允许测试工程师灵活的配置系统，从而获得显著低于其它方案的每通道成本。
测试脚本编辑软件
Test Script Builder是一款免费软件，随2600系列数字源表提供，帮助用户建立、修改、调试和存储TSP测试脚本。它提供一个项目/文件管理器窗口来存储和组织测试脚本，文本敏感的程序编辑器(类似Visual Baisic)用于创建和修改测试TSP代码，并且即时控制窗口能发送GPIB指令并从仪器接收数据。即时窗口可以查看已有的测试脚本，且便于调试。
典型应用
• 对多种器件进行I-V函数测试和特性分析，包括：
- 分立的和无源的元器件
- 双引脚 - 电阻、盘驱动器头、金属氧化物变阻器(MOV)、二极管、齐纳二极管、传感器、电容器、热敏电阻
- 三引脚 - 双极型小信号晶体管(BJT)场效应晶体管(FET)等
- 并行测试 – 双引脚、三引脚元器件阵列
- 简单集成电路 – 光学、驱动器、开关、传感器
• 集成的器件－小规模集成(SSI)和大规模集成(LSI).
- 模拟IC
- 射频集成电路(RFIC)
- 应用定制的集成电路
- 系统级芯片(SOC)器件
• 光电器件如发光二极管(LED)、激光二极管、高亮度LED(HBLED)、垂直共振腔面射型激光器(VCSEL)、显示器
• 上述器件的研发和特性分析 |
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