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使用CompactDAQ进行面向未来的验证测试

更新时间:2024-03-21 09:53:34 品牌:NI 浏览量:430

  NI CompactDAQ是一款模块化数据采集系统,提供60多个测量块,连接不同类型信号,兼具更快的速率、更高的分辨率、更优良的噪声屏蔽及精准同步等优势,适用不同场景下的高质量测量需求。

  同时,基于行业领先的软件支持,用户还可以灵活选择软件,快速搭建数据采集系统。无论是基于编程软件LabVIEW,C/C#,Python等实现自定义采集功能,还是基于配置的数采应用软件FlexLogger,都能够与NI CompactDAQ平台完美适配,完成数据的可靠采集、准确分析和清晰呈现。

  工程师为什么选择NI CompactDAQ进行电气和传感器测量?锁定3月27日的网络研讨会,NI专家将围绕模块化的价值、CompactDAQ概述、Demo演示等方面展开精彩讲解。

 

  网络研讨会议程:

  • 模块化的价值
  • CompactDAQ概述
  • 演示:从使用FlexLoggerTM软件的简单测量,扩展到使用LabVIEW添加控制、逻辑和报告
  • 现场问答与抽奖

 

  讲师介绍:

使用CompactDAQ进行面向未来的验证测试

 

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  覆盖广泛应用的USB、PCIe等系列多功能数据采集产品及C系列I/O模块。无论您现在有正在开发的项目,或是未来有项目计划,都不要错过这次机会。

 

使用CompactDAQ进行面向未来的验证测试

 

  会议时间:2024年3月27日 10:00-11:00

使用CompactDAQ进行面向未来的验证测试
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了解更多NI品牌相关内容:https://www.dfzk.com/ni/(NI品牌专区)

也可拨打东方中科的NI专线021-56060966,了解更多NI为您定制的解决方案。东方中科与NI期待和您合作共赢。

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