| 邀 请 函 |
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| 2005-03-01 |
尊敬的 ：
我们诚挚邀请您届时光临：
SEMICON China2005
日期：2005年3月15日-17日
地点：上海新国际博览中心（上海市浦东龙阳路2345号）
展位：5620#，Hall W5
SEMICON是国际最知名、规模最大的半导体行业展览，是行业用户了解最前沿科技、最新行业动态、与世界一流供应商面对面交流的重要机会。德国SENTECH公司作为薄膜椭偏测量仪器和等离子加工设备的专业制造商，每年都参加世界各地的SEMICON展览，今年更携部分样机参展，期望与您相聚在此行业盛会上。
Seminar – Thin Film Metrology
时间：2005年3月18日 上午10：00
地点：紫金山大酒店（上海市浦东东方路778号）
德国SENTECH公司总裁A. Kruger博士和全球市场经理B. Gruska博士将向您详细介绍薄膜测量的应用、最新技术发展和产品演示，您还可以亲自在样机上进行操作、测量。
研讨会内容：
◆ 薄膜测量的光学原理
◆ SENTECH公司介绍和产品概述
- 反射式膜厚仪
- 激光椭偏仪
- 光谱椭偏仪
- SENDURO - 业界首台全自动台式椭偏仪
◆ 应用交流
◆ 样机演示和客人亲自操作
如您有兴趣参观展会和研讨会，请访问我们的网站www.jicheng.net.cn或www.sentech.com
或致电咨询北京东方中科集成科技有限公司（SENTECH中国大陆总代理）：
联系人：王晶（北京） 金英华（上海）
电话：010-6871 5566转6810 021-6212 1166转806
传真：010-6872 8001 021-5239 8081
邮件：wangj@oimec.com.cn jinyh@oimec.com.cn |
摘：东方集成 |
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