尊敬的客户：

　　您好！
　　东方集成一直致力于为您提供实用领先的测试产品和方案，以解决您在研发和测试中遇到的各种难题。本次研讨会东方集成将携手日本HIOKI公司、日本NF公司、美国Tektronix公司、美国FLUKE公司，与您一起探讨汽车电子研发、电源研发、集成电路设计、航空航天等领域的关键测试技术和行业解决方案，使您的工作事半功倍！
　　届时，我们还将展示各品牌的最新测试测量仪器，您可以现场感受新产品带来的方便与高效！

　　通过参加此次研讨会，您将深入了解到：

• HIOKI公司推出的微型存储记录产品、功率计产品及其应用方案；
• NF高性价比任意波信号源、可编程交流源、功率放大器应用方案；
• FLUKE全系列红外热像产品及其在研发设计、生产、维护中的应用；
• Tektronix混合信号调试的经济解决方案；

　　此外，现场还有大量示波器、万用表、电源、电子负载、数采等应用方案提供。

　　会议时间：2008年7月3日（星期四）13:30～19:30
　　会议地点：古井假日酒店四楼中华宴会厅（上海市长寿路700号）（后附地图）
　　主办单位：北京东方中科集成科技有限公司上海分公司
　　支持单位：日置（上海）商贸有限公司、NF上海代表处、美国Tektronix公司、美国FLUKE公司

时 间

内 容

13:30-14:00

签到

14:00-14:20

东方集成公司介绍

14:20-15:10

HIOKI新产品发布及应用技术介绍

15:10-16:00

NF新产品发布及应用技术介绍

16:00-16:20

茶歇/样机演示

16:20-17:00

FLUKE红外热像产品及其应用介绍

17:00-17:40

Tektronix混合信号调试的经济解决方案

17:40

晚宴